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　　LCR測試儀就是用來測試元器件（電容/電感/電阻）參數(shù)的。在一般情況下，電阻只要測量其直流電阻值就可以了，這樣可以使用萬用表或者電阻測試儀。

　　

　　用儀器測量元器件的參數(shù)時，其關鍵問題是測量誤差。它的誤差來源主要有兩部分，首先是測試儀本身的內部誤差，其次是由不正確校準、測試件的連接方法及不正確選擇測量電路模型引起的。一般連接方法越麻煩越能準確地測量出元器件的參數(shù)。

　　

　　LCR測試儀的校準

　　

　　首先對測試儀進行開路校準，開路校準主要是消除測試夾具與被測件相并聯(lián)的雜散導納。其次是進行短路校準，通過一短路條（用低阻抗的金屬板）將高、低電極相連。短路校準主要是消除測試夾具與被測件相串聯(lián)的殘余阻抗的影響。

　　

　　選擇測量電路模型

　　

　　對于小電容、大電感來說，電抗一般都很大。這意味著并聯(lián)電阻的影響相對于小數(shù)值串聯(lián)電阻更加顯著，所以應采用并聯(lián)電路模型。相反，對于大電容、小電感則采用串聯(lián)模型。大于10K11左右用并聯(lián)，小于10KQ左右用串聯(lián)。

　　

　　LCR測試儀與被測件的連接

　　

　　對測試電纜和被測件進行屏蔽，通過抑制雜散電容，減少對高阻抗測試的測量誤差。一般用于小電容的測量。為了將測試引線的雜散電容減小，測試電纜引線的中心導體應維護盡可能短，測量接頭的屏蔽與電纜中心導體互聯(lián)，以降低對地雜散電容的影響。

　　

　　隨著科學應用技術不斷發(fā)展的需要，LCR測試儀的測量精度要求越來越重要，因此測量方法的好壞對保征產品質量和提高企業(yè)經濟效益有著一定的實際意義。